Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

Integrirana vezja - Meritve elektromagnetnega sevanja, od 150 kHz do 1 GHz - 4. del: Meritve prevajanega sevanja - Metoda neposrednega sklopa 1 ohm/150 ohmov - Popravek AC (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
10-Aug-2017
Withdrawal Date
09-May-2024
Technical Committee
Current Stage
9900 - Withdrawal (Adopted Project)
Start Date
10-May-2024
Due Date
02-Jun-2024
Completion Date
10-May-2024

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EN 61967-4:2005/AC:2017
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2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.Integrirana vezja - Meritve elektromagnetnega sevanja, od 150 kHz do 1 GHz - 4. del: Meritve prevajanega sevanja - Metoda neposrednega sklopa 1 ohm/150 ohmov - Popravek AC (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)33.100.10EmisijaEmission31.200Integrirana vezja, mikroelektronikaIntegrated circuits. MicroelectronicsICS:Ta slovenski standard je istoveten z:EN 61967-4:2002/AC:2017-07SIST EN 61967-4:2005/AC:2017en01-oktober-2017SIST EN 61967-4:2005/AC:2017SLOVENSKI
STANDARD



SIST EN 61967-4:2005/AC:2017



EUROPEAN STANDARD NORME EUROPÉENNE EUROPÄISCHE NORM EN 61967-4:2002/AC:2017-07
July 2017
ICS 31.200 English Version
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten
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